(8) 079646 可防止記憶體內容被讀出的記憶裝置之測試方法及裝置

公告號	275106
專利名稱	可防止記憶體內容被讀出的記憶裝置之測試方法及裝置
公告日	1996/05/01
證書號	079646
申請日	1995/11/03
申請號	084111691
國際分類號 /IPC	G11C-029/52(2006.01); (IPC 1-7) : G01R-031/26
公報卷期	23-13
發明人	徐世斌 鄭奕禧
申請人	聯華電子股份有限公司 新竹科學工業園區工業東三路三號
代理人	詹銘文
摘要	一種可防止記憶體內容被讀出的記憶裝置之測試方法及裝置，其可以防止儲存於一記憶裝置的記憶體內之程式資料被讀出至記憶裝置外，該測試方法係包括下列步驟：（Ｉ）讀取儲存於記憶體內的程式資料；（Ⅱ）從一測試機台上送出一對應於前述程式資料的測試向量至記憶裝置中；（Ⅲ）比較程式資料及測試向量，且若其間有任何差異產生，即送出一錯誤信號，藉以在無須將程式資料讀出至記憶裝置外的情形外，可對記憶裝置加以測試；（Ⅳ）當比較的單位為複數個位址時，計算比較的過程中產生的錯誤信號之數目；（Ｖ）當有錯誤信號產生時，判別記憶裝置為不良品。